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4568寸片测试的实际要求有哪些

所属类别:2020-03-31 阅读:243次
       4568寸片测试复盖率是如何计算的,必须区分测试和验证之间的差异,验证是验证设计的电路是否符合要求的过程,测试是检查特定芯片是否有个别缺陷的过程,验证过程的复盖范围统计信息对于RTL代码,通常对于为芯片要求抽象的功能复盖范围,包括代码复盖范围、分支复盖范围和状态机复盖范围,coverage当然越高越好。

4568寸片测试

       因此事先发现缺陷的可能性就越高,芯片生产的bug也就越少,验证案例优化的一个方向,是通过最小使用案例和时间实现最大复盖范围,如果有未经4568寸片测试验证的芯片故障,则随后制造的每个芯片也会出现相同的问题,测试过程的复盖范围是通过添加到设计中的,复盖范围在后端阶段有统计特定的工具,扫描的功能是验证芯片的寄存器和组合逻辑是否正确,BIST用于确定内存块是否有坏处。
       因此,扫描和BIST复盖范围的含义是,芯片上的寄存器数量以及逻辑网关连接到SCAN链的内存百分比都可以测试,芯片制造时,机器将芯片配置为设计良好的4568寸片测试模式,扫描寄存器逻辑关口和内存,过滤掉功能不正常的芯片,然后丢弃,芯片的DFT盖不完整时,个别坏芯片被认为对客户有好处,可能会影响客户,因此测试复盖范围必须尽可能广,芯片功能常用的测试手段或几种方法。
       软件实现根据核心输入激励,以及输出响应的数据比较要求,代码是根据核心计时要求完美设计的,根据对于可编程设备构建测试平台的设计理念,功能4568寸片测试平台由以下内容组成输入激励的生成,以及输出响应使用可编程逻辑设备进行处理,用ROM存储DSP内核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数;
使用SRAM作为外部缓存,对于硬件实现功能测试平台实现方框图,最后设计执行核心功能测试的系统平台,扩展数据可编程逻辑单元分类,固定逻辑单元的回路是永久性的,执行一个或一系列功能,制造完成后不能更改。
 

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