4568寸片测试的实际要求有哪些
所属类别：2020-03-31 阅读：1415次
4568寸片测试复盖率是如何计算的，必须区分测试和验证之间的差异，验证是验证设计的电路是否符合要求的过程，测试是检查特定芯片是否有个别缺陷的过程，验证过程的复盖范围统计信息对于RTL代码，通常对于为芯片要求抽象的功能复盖范围，包括代码复盖范围、分支复盖范围和状态机复盖范围，coverage当然越高越好。
因此事先发现缺陷的可能性就越高，芯片生产的bug也就越少，验证案例优化的一个方向，是通过最小使用案例和时间实现****复盖范围，如果有未经4568寸片测试验证的芯片故障，则随后制造的每个芯片也会出现相同的问题，测试过程的复盖范围是通过添加到设计中的，复盖范围在后端阶段有统计特定的工具，扫描的功能是验证芯片的寄存器和组合逻辑是否正确，BIST用于确定内存块是否有坏处。
因此，扫描和BIST复盖范围的含义是，芯片上的寄存器数量以及逻辑网关连接到SCAN链的内存百分比都可以测试，芯片制造时，机器将芯片配置为设计良好的4568寸片测试模式，扫描寄存器逻辑关口和内存，过滤掉功能不正常的芯片，然后丢弃，芯片的DFT盖不完整时，个别坏芯片被认为对客户有好处，可能会影响客户，因此测试复盖范围必须尽可能广，芯片功能常用的测试手段或几种方法。
软件实现根据核心输入激励，以及输出响应的数据比较要求，代码是根据核心计时要求完美设计的，根据对于可编程设备构建测试平台的设计理念，功能4568寸片测试平台由以下内容组成输入激励的生成，以及输出响应使用可编程逻辑设备进行处理，用ROM存储DSP内核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数；
使用SRAM作为外部缓存，对于硬件实现功能测试平台实现方框图，最后设计执行核心功能测试的系统平台，扩展数据可编程逻辑单元分类，固定逻辑单元的回路是永久性的，执行一个或一系列功能，制造完成后不能更改。
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