4568寸片测试在芯片测试中有什么作用呢？

      在很多普通人眼里，芯片测试只是一个简单的步骤。其实殊不知，芯片测试需要涉及到的因素特别多，并不是简单的挑选测试就可以了，任何的测试都是需要严格的步骤的。尤其是诸如芯片测试这样的高技术含量的事情，其实对于每一个细节都是比较严格的，从圆片测试，4568寸片测试再到其他的测试细节，每一个细节都需要全程的监督与跟踪。下面我们就具体的看一下关于4568寸片测试的细节控制。

      其实从一款芯片设计之初，开发人员就应该想到后期的测试问题了，要减少芯片的出错问题，减少外来电源对芯片的影响和测试。一切的测试的向量都应该在可控制的范围内，诸如4568寸片测试就是其中的一个向量测试因素。只有等芯片的所有的测试都完全的合格之后，才可以进入到下一个阶段，也就是ATE测试的同步，这其中还有晶圆的问题，芯片的测试周期需要缩短，不能浪费太长的时间，节约时间成本也是一个需要控制的因素。

      只有经过了4568寸片测试，经过了各项不同的测试之后，所有的芯片才可以正式进入到量产的阶段，这个时候我们需要做的就是监督的问题，监督整个的合格率，客户的述求和PPM低，这些都是需要持续优化的过程。4568寸片测试并不是芯片测试的最后一个环节，当然也不是唯一的环节。

      总之，芯片测试不只是涉及到一个成本预算的问题，其实还涉及到效率问题，最终的成本平衡的控制问题。这都需要相关人员好好操作。