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4568寸片测试在芯片测试中有什么作用呢?

所属类别:2020-03-24 阅读:433次
      在很多普通人眼里,芯片测试只是一个简单的步骤。其实殊不知,芯片测试需要涉及到的因素特别多,并不是简单的挑选测试就可以了,任何的测试都是需要严格的步骤的。尤其是诸如芯片测试这样的高技术含量的事情,其实对于每一个细节都是比较严格的,从圆片测试,4568寸片测试再到其他的测试细节,每一个细节都需要全程的监督与跟踪。下面我们就具体的看一下关于4568寸片测试的细节控制。

      其实从一款芯片设计之初,开发人员就应该想到后期的测试问题了,要减少芯片的出错问题,减少外来电源对芯片的影响和测试。一切的测试的向量都应该在可控制的范围内,诸如4568寸片测试就是其中的一个向量测试因素。只有等芯片的所有的测试都完全的合格之后,才可以进入到下一个阶段,也就是ATE测试的同步,这其中还有晶圆的问题,芯片的测试周期需要缩短,不能浪费太长的时间,节约时间成本也是一个需要控制的因素。

      只有经过了4568寸片测试,经过了各项不同的测试之后,所有的芯片才可以正式进入到量产的阶段,这个时候我们需要做的就是监督的问题,监督整个的合格率,客户的述求和PPM低,这些都是需要持续优化的过程。4568寸片测试并不是芯片测试的最后一个环节,当然也不是唯一的环节。

芯片测试

      总之,芯片测试不只是涉及到一个成本预算的问题,其实还涉及到效率问题,最终的成本平衡的控制问题。这都需要相关人员好好操作。

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