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哪些因素影响wafertest测试设备的输出结果

所属类别:2022-06-09 阅读:198次
      目前市面上wafertest测试设备主要分为两种,一种是提供所需的静态影像,一般以波点位的图像为主,另外一种是与其他的第三方设备或者影像系统相连接,形成被检测设备的动态定位和检测图像或影像,那么哪些因素影响它的输出结果呢?
      1、多次扫描成像
      wafertest测试是从影像资料上由计算机系统或者人工辅助判断工业设备是否出现了部分损坏,它们会直接决定检测的结果,现在市面上的一些扫描检测设备一般是机器与人工辅助相结合,这样可以最大限度的保障准确率,也极大的节约了人工的成本,提高了检测的效率,适合各种高精密设备和批量设备检测。
      2、设备是否校准
      wafertest测试设备虽然作为一种高科技仪器,但长期使用之后仍需要对其进行校准,它具有自我校准的功能,一般在使用过程中可以动态的自我校准,然而使用一段时间后仍需要人工进行调整和干扰。以目前的市场情况来看,绝大多数同类设备均是如此,鉴于它特殊的工作模式,预计未来测试设备升级之后仍然不能完全实现智能运行。
      所以wafertest测试设备并不是一种完全自动化的设备仪器,与第三方的软件或其他设备相结合之后更需要定期校准其精度,这也是使其长期保持稳定工作的重要环节之一。建议校准前与生产厂家售后团队进行深度咨询,必要时派原厂售后人员予以支持,切勿私自开机校验。
      本公司主营项目:芯片测试,圆片测试,晶圆测试,CP测试,4568寸片测试,wafertest测试。

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