CP测试需要检测哪些功能？

      CP测试的设备有芯片功能检测设备、芯片晶圆内存情况检测的设备、芯片信号情况检测的设备等，使用的检测设备有所不同，不过测试的原理没有区别。测试的范围有所区别。除了要进行芯片功能测试、芯片的电力情况测试、漏电等问题测试都是十分必要的。

      探针卡是CP测试设备的主要配件，该配件用于让晶圆和探针更好的接触，因此有操控芯片作用，通过该配件的操控，探针能准确的检测晶圆上的pad，了解晶圆信号功能，由于技术的升级，如今该设备一般是使用自动化技术，因此检测信号等数据更为轻松。

      探针卡配件按照外观以及功能也有很懂类别，有刀片式、微机电式等，不同类别的探针卡探针的布局也有所区别，人们需要按照使用需求进行选择。打造探针的材料也有区别，不同材料的使用效果相差并不小，通常使用钨材料作为探针材料，这是由于钨材料的性能更出色，不管是硬度、还是耐用性都有保障，而且稳定性好，有利于提升检测的效率，长时间检测也不会出现质量问题。
      本公司主营项目：芯片测试,圆片测试,晶圆测试,CP测试,4568寸片测试,wafertest测试。