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CP测试用到的工具是什么?

所属类别:2020-09-10 阅读:450次
    CP测试是芯片测试的重要测试方向之一,芯片测试继续接触FT测试,但两者在输出方法上有很大差异。CP测试主要根据探针检查整合ic,根据相关流程输入特定的数据信号,最后检测整合ic是否有一定的应对规定。
    目前,中国许多 地区CP测试最常见的专用工具是还氧针,该针实际上由还氧环氧树脂制成,针管非常多,针管与针管之间的间隔非常小,密封性和一致性非常大,信号测试不完整。CP测试一般不容易规定高速测试。另外,在电气设备的特性上,这样的检查也有一定的误差的可能性很高,探针和PAD之间的接触会造成一定的危害。实际操作人员在开展工作时,必须注意避免 电源。如果有大接触的电阻,必须考虑其他大中型芯片测试方法。
    CP测试要充分考虑marginalfail,寻找最佳计划方案。集成ic的功能损失也是必须考虑的因素,芯片测试与主板芯片相比,只有一般的开关电源功能损失,由于其探针的限制,在加工过程中发生异常的可能性很高。CP测试会导致 一些芯片测试的不稳定因素,也就是说,每个人都在谈论arginalfail。这种批量生产检测效率低,即使在CP全过程中有一定的解决方法,也必须寻找最佳方法。
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