4568寸片测试的基本要求和工作原理
所属类别：2020-08-18 阅读：2117次
随着工程师对于4568寸片测试的不断突破，我们已经确定了测试的基本要求和工作原理。下面我们就来详细看一下吧。首先是，关于探针的平面输入情况测试，探针的平面传输线必须要和压点接触，但是并不需要一定接触导线，导线和压点是两个不同的接触点。如果后期要进行微带线的测试，那么就需要进行共面探针的设计了。这个接触的点是金属球，并且要让金属球可以反复测试，金属球的重量可以设计得稍微重一点，才重复测试中不会产生很大的摩擦。
关于信号压点的接触，为了让压点可以接触，必须要让探针进一步倾斜。在4568寸片测试中，我们将其称之为平面化探针。
探针需要重复性接触，但是联轴器不能重复性接触。探针的两端可以进行反复磨平，这是一个专业的高度校准模式。通过反复性的接触，探针的准确性进一步加强了，探针的损耗越多，其实反射只会越来越多。最终这之间产生的误差会越来越小。
最后，在测试中，大家对于平面的标准化测试会相对容易一点。但是对于不规则的几何形状的测试会比较难一些。这个时候我们可以采用模型参考数据测试方法。也就是打造一个相关的数据模型，然后通过这个数据模型来改变几何尺寸，慢慢和这个不规则的几何图形吻合即可。
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