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80年代关于wafertest测试的突破性发展

所属类别:2020-08-10 阅读:281次
    在八十年代初期,我们国家的很多公司就已经提出了射频晶圆测试方案。后期对于探针测试的研究又有了新的发展,尤其是wafertest测试的出现,让探针测试开始了晶圆片测试的旅程。那么这个过程中,到底发生了哪些改变呢?从80年代开始,国外对于这项技术的推动有哪些变化历程呢?
    从80年代开始,关于wafertest测试就在短时间发生了很大的变化,直接扩展到了28GHZ,并且后期在短短的一年时间之内,这个扩展就已经到达了50GHZ。这是因为后期的单片微波集成越来越大,探针的波段从91年开始出现变化,到93年的时候就已经出现了直接的质的飞跃。在1990年,美国的相关公司提出了可替换的探针技术。这个技术直接让探针的主题移动都改变了,陶瓷顶尖技术更多。WPH探针针对于之前的技术进行了改造,用最小的压力实现最大的波动,甚至已经达到了最小的力量波动。也正是因为这个技术的改造,后期才有了“死亡之声”的出现。陶瓷探针破裂额声音让很多工程师都感受到了绝望,因为在当时,其实探针的研究还是非常昂贵的,付出的金钱成本和时间成本都很大。这种情况下,我们要保证陶瓷探针的技术突破,就必须要在市场上慢慢研究。总之,其实1988年是一个里程碑的时代,那个年代有了很多专利的出现,机械方面的改善很多。

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