您好,欢迎您进入无锡星杰测试有限公司官方网站!
24小时服务热线:15961723550

新闻资讯

联系我们/Contact Us
联系人:浦经理
手机:15961723550
电话:0510-85623588
网址:www.wafersort-xj.com
地址:无锡市高浪路999号太湖科技中心A座A107室
行业资讯
您的位置: 新闻资讯 > 行业资讯 > 详细信息

晶圆测试在探针测试中的应用

所属类别:2020-08-03 阅读:709次
    从传统意义上来看,晶圆测试其实主要是应用在探针测试上,探针的测试材料不同,也会导致技术的变化。那么到底在探针测试中需要注意哪些问题呢?有哪些测试原理呢?下面我们就来具体看一下吧。
    探针测试中,晶圆测试在每一个阶段都会发生相关的作用。从技术的开发,到后期的模型提取过程,再到后期的验证和调试,这些都需要从小规模的生产到最终的生产测试中。通过一步步的射频探针过程,芯片测试中的特性越来越明显。这样一来,其实新产品的研发就会越来越快速,时间进一步缩短,同时成本也在不断的下降当中。
    不得不承认,在过去的二十年时间内,其实我们的晶圆测试已经有了质的飞跃。从以往的低频测试,现在已经开始慢慢应用到多种场合之下了,从高频高温到阻抗过程中,整个的测量装置都在发生混合信号作用。采用连续模式下的高功率测量,然后再应用到太赫兹的作用下,这些都可以看到探针的测试作用。
    当然现在探针测试的工具不一样了。从早期的探针微带线到探针压点的接触,整个的技术难度都已经提高了一倍,压点过程中对于接触性的电流越来越多,当圆芯片出现异动的时候,辐射就会被加强,我们对于直流的测试也会发生变化。总之,探针测试需要不断尝试新的工具,在测试过程中也需要不断调整其节奏。

相关产品:

氮气柜
氮气柜
探针台UF200A
探针台UF200A
示波器
示波器
烘箱
烘箱
真空包装机
真空包装机
Copyright © 2018 无锡星杰测试有限公司 All Rights Reservrd 版权所有 技术支持:无锡网络推广 苏ICP备18013164号-1
网站部分图片来自互联网,如有侵权,请及时通知,我们会及时更换!  XML  HTML